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光学测量系统
光学测量系统
产品名称:ZEISS O-INSPECT 322
产品简介:
测量范围[dm] 3/2/2 E0自1.6 μm起
介绍
O-INSPECT复合式测量机集光学式与接触式测量技术于一身,因此可用于众多部件的测量和分析。无需增加专用设备,O-INSPECT一机即可胜任。
配置
. Discovery远心变焦镜头
. 自适应照明系统
. VAST XXT扫描探头
. 测针架
. 标准球
选项
含玻璃托盘和网格托盘的上料系统
校准托盘
软件
CALYPSO
测量范围(in mm)
X
Y
Z
3/2/2
300
200
200
长度测量误差E0
可配置的探头
VAST XXT
Viscan
可选用的软件
calypso
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